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試驗探針的壽命一般由什么而決定呢？
更新時間：2021-08-11 點擊次數(shù)：1737
人們最早采用探針技術(shù)與今天的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個很短的線極尖而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過探針基片上一個小孔而與被測器件的壓點相接觸。此時，其技術(shù)難度在于如何突破4GHz時實現(xiàn)可重復(fù)測量。雖然有可能通過校準(zhǔn)過程來剔除一個接觸線極尖相對較大的串聯(lián)電感的影響，但當(dāng)圓晶片的夾具被移動時，線極尖的輻射阻抗會有較大的變化。
試驗探針在產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計驗證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測試和最終的生產(chǎn)測試。通過使用探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發(fā)時間縮短并且大大降低開發(fā)新產(chǎn)品的成本。
試驗探針的壽命往往都是由測試環(huán)境決定的，如果測試環(huán)境比較差，各種雜質(zhì)進入探針內(nèi)管，就會造成彈簧損壞，這樣就必須要更換探針。這種是小部分更換，還有一種是定期對測試探針進行更換，當(dāng)使用到一定的時間后，測試探針就必須要更換。如果是高頻探針的話，這個比較特殊，高頻探針主要在于高頻針的內(nèi)芯針，所以高頻探針更換一般都是將內(nèi)芯針進行更換，這樣可大大降低成本。
使用者的不當(dāng)使用，也可能造成試驗探針因損壞而提前更換。例如，探針頭部下壓的深度（也就是頭接觸測試點時頭部下壓程度。有輕微接觸，有頭部下壓三分二和下壓到底部）、下壓時的速度以及下壓時候的力度，這些都會對探針的彈簧都有所耗損。每個顧客的設(shè)計以及使用方法不同，這些使用方法都是決定探針壽命的幾個關(guān)鍵的因素。
